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Pre IC-H型预处理柱：所谓的样品基体去除是指利用样品中基体组分与样品前处理小柱中的固定相之间的也有结合使基体中的干扰组分保留在样品前处理小柱上，而被分析物则不被保留直接通过样品前处理小柱，从而进行后续的分析测定。这样就可消除样品基体中共存组分对测定的干扰。

型号：Pre IC-H型

更新日期：2024-12-04

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